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電容電壓（C-V）特性測試儀(yi) 型號：KCV-300
1．概述
KCV-300型電容電壓（C-V）特性測試儀(yi) 是測試頻率為(wei) 1MHz的數字式電容測試儀(yi) 器。**用於(yu) 測量半導體(ti) 器件PN結勢壘在不同偏壓下的電容量，也可測試其它電容。
儀(yi) 器有較高的分辨率，電容量是四位讀數，可分辨到0.001pF，偏置電壓分辨率為(wei) 0.01V，漏電流分辨率為(wei) 0.01μA。
該測試儀(yi) 器性能穩定可靠，功能齊全，精度高，操作簡單，適用於(yu) 元件生產(chan) 廠家，科研部門，高等院校等單位。
2. 技術參數
（1）測試信號頻率：1.000MHz±0.01%
（2）測試信號電壓：≤100mVrms
（3）測量速率：慢3次/秒，快5次/秒
（4）測量範圍：
電容C：0.001-10000 pF
漏電流：0.1-199.9μA
（5）直流偏壓：儀(yi) 器自帶偏壓0.01-35V，可外接偏壓源拓展，**大偏壓輸入為(wei) 100V
（6）預熱時間：30min
（7）供電電源：
交流電壓：220V±10%
頻率：50Hz±5%
消耗功率：≤40W
（8）工作環境
溫度：0-40℃
濕度：20%-90%RH
（9）外形尺寸：400mm×135mm×450mm（寬×高×深）
（10）儀(yi) 器重量：10Kg
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