| 品牌 | 同德 | 產地 | 國產 |
|---|---|---|---|
| 產品種類 | 實驗室 |
非接觸式多點動態位移檢測係統 型號:JZ-QL9800
產(chan) 品用途:
主要用於(yu) 檢測橋梁梁體(ti) 、橋墩、支座、懸索等結構的動態及靜態變形,也可用於(yu) 隧道、大壩、高塔、文物古建等結構物的監測。
工作原理:
非接觸式多點動態位移檢測係統
采用圖像模式識別技術及模板匹配跟蹤算法相結合技術,通過圖像相關(guan) 算法對被測物體(ti) 進行高速跟蹤測量。整個(ge) 測量過程,僅(jin) 需一台主機找準被測目標,即可計算出視場範圍內(nei) 所有點的兩(liang) 維動態或靜態位移。
主要技術參數:
檢測距離:1-500米;
分辨率:測量範圍的十萬(wan) 分之一;
測量精度:士0.02mm(10米距離),可同時記錄橋梁橫向及豎向位移;
測量範圍:0.01mm~300m(縱向);
撓度測量:可同時測量多個(ge) 靜態點,8個(ge) 動態點;
采樣頻率:110Hz(8個(ge) 目標點);
距離檢測精度:1mm
測量方式:實時測量和離線測量(工況錄製);
數據采集及分析係統:係統數據采集及分析軟件,量測的數據能實時顯示,能夠完成自動標定。分析軟件包括撓度zui大、zui小值,濾波功能,基線平移,衝(chong) 擊係數,功率譜,區間頻率。
產(chan) 品特點:
*:無需在被測點上安裝靶標或標誌點即可進行測量,在特殊工況下使用更為(wei) 方便;
第二:可同時測量多點動態撓度或者靜態撓度,效率更快,精度更高;
第三:可對撓度值同時進行兩(liang) 位測量,即縱向、尤其是橫向的位移測量,解決(jue) 目前所有儀(yi) 器存在的技術壁壘;
第四:可以采用先拍攝視頻錄,事後再增加測點等處理分析的方式,彌補現場測量可能存在的盲點或不足;
第五:具備抗擾動算法,可有效消除架設麵振動、天氣等外界環境因素對儀(yi) 器的影響;
第六:測量範圍廣,可將整跨或整座橋盡收其中,測量範圍zui大可達百米以上。
使用一台儀(yi) 器可測量多個(ge) 被測點,通過多個(ge) 被測點的數據可以得到結構的整體(ti) 運動情況。
可以采用先拍攝視頻錄,再進行分析的方式。這樣可進行更詳細的分祈,便於(yu) 發現橋梁的問題所在。
![]() | 產品名稱:數字式四探針電阻率測試儀 產品型號:SX1944 |
數字式四探針電阻率測試儀(yi) 型號:SX1944
產(chan) 品說明
四探針測試儀(yi) 是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置。廣泛用於(yu) 半導體(ti) 廠家、太陽能行業(ye) ,還能滿足科研單位的精密研究。
產(chan) 品特點
四探針測試儀(yi) 是根據單晶矽物理測試方法標準並參考美國A.S.T.M 標準設計的半導體(ti) 材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測試儀(yi) 器。
儀(yi) 器以大規模集成電路為(wei) 核心部件,采用旋扭式開關(guan) 控製,及各種工作狀態LED指示。應用微計算機技術,使得測量讀數更加直觀、快速。整套儀(yi) 器體(ti) 積小、功耗低、測量精度高、測試速度快、穩定性好、易操作。
型號SX1944
測量範圍電阻率:10-4~105Ω-cm 方塊電阻:10-3~106Ω/□ 電阻:10-4~105Ω
可測半導體(ti) 材料尺寸直徑:Φ15~100mm
測量方位軸向、徑向均可
數字電壓表⑴量程: 200mV
⑵誤差:± 0.1% 讀數± 2 字
⑶大分辨力:10μV
顯示 : 4位半數字顯示。小數點自動顯示
數控恒流源⑴電流輸出:直流電流 0 ~ 100mA 連續可調,由交流電源供電。
⑵量程: 1 μ A , 10 μ A , 100μA , 1mA , 10mA , 100mA
⑶誤差:± 0.5% 讀數± 2 字
四探針測試探頭⑴探 針 間 距: 1mm
⑵探針機械遊移率: ± 1.0%
⑶探 針: 碳化鎢,Φ 0.5mm
⑷壓 力: 0 ~ 2kg 可調 , 大壓力約 2kg
電源輸入 : AC 220V ± 10% 50Hz 功 耗: <20W
外形尺寸主機 260mm (長)× 210 mm (寬)× 125mm (高)
備注USB 接口,配軟件


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