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渦流測厚儀(yi) 型號:TC-ED400
TC-ED400型渦流測厚儀(yi) 是TC-ED400型測厚儀(yi) 的改進型，儀(yi) 器性能大幅度提高。
儀(yi) 器適於(yu) 測量各種非磁性金屬基體(ti) 上緣性覆蓋層的厚度。主要用於(yu) 測量鋁合金型材表麵的陽氧化膜或塗層厚度，還可用於(yu) 測量其它鋁材料、鋁工件表麵的陽氧化膜或塗層厚度，以及其他有色金屬材料上緣性覆蓋層的厚度，測量塑料薄膜及紙張厚度。
儀(yi) 器適於(yu) 在生產(chan) 現場、銷售現場或施工現場對產(chan) 品進行快速、無損的膜厚檢查， 可用於(yu) 生產(chan) 檢驗、驗收檢驗和質量監督檢驗。
儀(yi) 器符合標準GB/T4957-2003 《非磁性金屬基體(ti) 上非導電覆蓋層厚度測量渦流法》。
儀(yi) 器特點
TC-ED400型渦流測厚儀(yi) 與(yu) TC-ED400型相比，具有如下特點：
＊量程寬 TC-ED400型的量程達到0～500μm。
＊精度高 TC-ED400型的測量精度達到2%。
＊分辨率高 TC-ED400型的分辨率達到0.1μm。
＊校正簡便 隻校正“0”和“50μm”兩(liang) 點，即可在全量程範圍內(nei) 保證設計精度。
＊基體(ti) 導電率影響小 基體(ti) 材料從(cong) 純鋁變化到各種鋁合金、紫銅、黃銅時，測量
誤差不大於(yu) 1～2μm。
＊可靠性提高 采用高集成度、高穩定性電子器件，電路結構優(you) 化，儀(yi) 器可靠性
提高。
＊穩定性提高 采用的溫度補償(chang) 技術，測量值隨環境溫度的變化很小。儀(yi) 器
校正一次可在生產(chan) 現場使用。
＊探頭線壽命長 采用德國進口的，在德國測厚儀(yi) 上使用的探頭線，探頭線壽命
可大大延長。
＊探頭芯壽命長 采用高強度磁芯材料，微調了探頭設計，探頭芯壽命可大大延
長。
＊探頭可互換 外接式探頭，探頭損壞後，使用者可自行更換備用探頭。儀(yi) 器無
需返廠維修。
測量範圍： 0～500μm
測量精度： 0～50μm：±1μm；
50～500μm：±2%
分 辨 率： 0～50μm：0.1μm、
50～500μm：1μm；
0～500μm：1μm（可選）
使用溫度： 5～45℃
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm
重 量： 260g
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