貴金屬檢測儀 貴金屬測試儀TC-X-3680 詳細資料

產品名稱：貴金屬檢測儀 貴金屬測試儀 產品型號：TC-X-3680

貴金屬檢測儀(yi) 貴金屬測試儀(yi) 型號：TC-X-3680
產(chan) 品詳情： TCX-3680 貴金屬檢測儀(yi)

產(chan) 品型號：TCX-3680

產(chan) 品詳情：
TCX-3680是一種體(ti) 現X射線熒光分析技術進展的能量色散X射線熒光光譜儀(yi) 。它采用低功率小型X光管為(wei) 激發源，電製冷矽半導體(ti) 探測器為(wei) 探測單元，再加上我公司專(zhuan) 門開發的應用軟件，充分發揮各部件的優(you) 異性能，保證了整台儀(yi) 器的高分辨率及通用適應性。任何需要多元素同時分析的地方，正是它大有作為(wei) 之處。
儀(yi) 器檢測能力強，分辨率高，於(yu) 各行業(ye) 對不同元素進行無損檢測。在不同工作環境下分析範圍從(cong) Al（13號元素）到U（92號元素）。無損分析迅速，無需製樣，測試時間從(cong) 幾秒到幾分鍾可調。檢測精度從(cong) PPM級別到千分之一級別。

強勢功能
1. 基本參數法對從(cong) 鋁（13號元素）至鈾（92號元素）定性分析測量。
2．包裹樣品檢測辨別係統。
3．樣品室高清成像定位係統，方便微小樣品定位測量。
4．電製冷與(yu) 內(nei) 部雙向循環冷卻恒溫係統相結合，維持內(nei) 部工作環境穩定。
5. 內(nei) 部動力學風道設計，快速排出多餘(yu) 熱量。
6．雙峰位快速自動校準。
7．雙箱體(ti) 結構，抗力強且方便硬件升級。
8．儀(yi) 器工作方法任意開發。
9. 定量分析：包括經驗係數法，理論a係數法和基本參數法。
10.定性分析：包括Kl譜線標記法，譜圖比較法，光標自動尋峰等。
11.測試報表根據客戶要求獨立設計。
12.溫度係數：溫度變化1度，電壓變化不過0.01%
13.穩定性：經過半個(ge) 小時預熱後，每8小時變化不過0.05%
14.準直器：使用特殊的濾波片自動更換，提高高能區的峰背比。
15.彩色液晶顯示屏
16.的多功能數字集成新型放大器，提高降噪比。

整機技術規格
1．外型尺寸：600mm×530mm×330mm

2. 可測試樣品大小：關(guan) 倉(cang) 測量：220mm×200mm×150mm
開倉(cang) 測量：無限大
3. 儀(yi) 器重量：50公斤
4．工作環境溫度：0——35℃
5. 工作環境相對濕度：≤80%
6. 元素分析範圍：鋁（Al）——鈾（U）
7. 含量分析範圍：1PPM——99.999%
8．測量時間:10——180秒可調
9. 激發源：低功率X射線管
10．電源：美國Spellman*電源
11．探測器：美國Amptek*電製冷Si-Pin半導體(ti) 探測器
12. 儀(yi) 器分辨率：55Fe的能量為(wei) 5.9Kev的MnKα線，分辨率優(you) 於(yu) 149eV
13．多道分析器：2048道
14．軟件：基於(yu) WINDOWS的強大工作軟件
15. 客戶可進行二次開發，自行開發任意多個(ge) 分析方法
16．工作電源：交流 220V 50Hz