
小麥粉加工精度測定儀(yi) 型號:WSF-Ⅲ
WSF-Ⅲ小麥粉加工精度測定儀(yi) 於(yu) 麵粉廠、糧食檢化驗部門對小麥粉粉色和麩星含量的檢測。
小麥粉粉色和麩星是衡量小麥粉加工精度的兩(liang) 個(ge) 指標。以來,一直采用目測方式與(yu) 實物標準樣品比較粉色和麩星,以確定小麥粉的加工精度。這種方法受主觀因素影響大,判斷誤差較大,且無法定量表述。
WSF-Ⅲ小麥粉加工精度測定儀(yi) 應用圖像處理和數值分析技術,實現了對小麥粉粉色和麩星的客觀及自動檢測。該儀(yi) 器能夠測定小麥粉的藍光白度、粉色以及麩星所占比例等指標,具有檢測快速,結果客觀、量化的特點。
主要技術參數:
1、光源:模擬D65照明體(ti)
2、粉色表示:色空間值L*、a*、b*(L、a、b)
3、麩星含量表示:試樣表麵麩星麵積與(yu) 試樣表麵積的比值(%)
4、白度表示:藍光白度Wb
5、顯示:圖形點陣液晶顯示器
6、24h穩定性:白度≤0.1麩星百分比≤0.2%
7、示值精度:白度≤0.5麩星百分比≤0.4%
8、麩星含量測定重複性:同一份試樣兩(liang) 次測定的差值小於(yu) 算術平均值的10%
9、色度值重複性:△E*ab≤0.2
預熱時間:30分鍾
電源:交流220V±10% 50Hz
工作溫度:0℃~40℃
外形尺寸(長×寬×高):500mm×350mm×380mm
WSF-Ⅲ小麥粉加工精度測定儀(yi) ,滿足《GB/T 5504-2011 糧油檢驗小麥粉加工精度檢驗》的要求。