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雙電測四探針測定儀(yi) 雙電測四探針電阻率測試儀(yi) 型號： 341
本儀(yi) 器本儀(yi) 器采用四探針雙電測量方法，於(yu) 生產(chan) 企業(ye) 、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體(ti) 材料和半導體(ti) 材料質量的一種重要的工具。本儀(yi) 器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，並帶有溫度補償(chang) 功能，電阻率單位自動選擇，儀(yi) 器自動測量並根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重複設置。采用高精度AD芯片控製，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，並保存和打印數據，自動生成報表；本儀(yi) 器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度係數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產(chan) 品及測試項目要求選購.
雙電測數字式四探針測試儀(yi) 是運用直線或方形四探針雙位測量。該儀(yi) 器設計符合單晶矽物理測試方法標準並參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換，進行兩(liang) 次電測量，對數據進行雙電測分析，自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械遊移等因素對測量結果的影響，它與(yu) 單電測直線或方形四探針相比，大大提高度，特別是於(yu) 斜置式四探針對於(yu) 微區的測試。
提供中文或英文兩(liang) 種語言操作界麵選擇，滿足國內(nei) 及國外客戶需求
廣泛用於(yu) ：覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、塗覆、塗布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電塗料，其他半導體(ti) 材料、薄膜材料方阻測試
矽晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體(ti) 材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發鋁膜，PCB銅箔膜，EMI塗層等物質的薄層電阻與(yu) 電阻率 導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等
參數資料
1.方塊電阻範圍：10-5～2×105Ω/□
2.電阻率範圍：10-6～2×106Ω-cm
3.測試電流範圍：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
4.電流精度：±0.1%讀數
5.電阻精度：≤0.3%
6.顯示讀數：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度係數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
7.測試方式: 雙電測量
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W
9.整機不確定性誤差: ≤4%（標準樣片結果）
10.選購功能: 選購1.pc軟件；選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平台
11.測試探頭： 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
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