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*晶閘管少子壽命測試儀(yi) 晶閘管測試儀(yi) 型號：DBC-352
結構特征
本儀(yi) 器為(wei) 箱式結構，數字顯示，讀數直觀方便。前部是麵板，裝有控製鍵、
數字顯示表和接線端子等。後蓋板上裝有三線電源插座和保險絲(si) 盒。(保險絲(si)
為(wei) 0./250V)。
本儀(yi) 器安放無特殊要求，但儀(yi) 器外殼要可靠接地(本儀(yi) 器外殼與(yu) 後蓋板的
三線電源插座中點相連)，以保證儀(yi) 器的測量精度和操作人員的安全。
概述
本儀(yi) 器是晶閘管和整流管少子壽命的測試設備。於(yu) 各種反向阻斷
型晶閘管、逆導晶閘管、雙向晶閘管及各種整流管的參數測試。本測試儀(yi) 設計
，結構合理，並具有數字顯示，直接讀取少子壽命值，自動測試，操作簡
便等特點。其技術指標符合GB4024-83標準的規定。是電力半導體(ti) 器件生產(chan) 廠
zui為(wei) 理想的檢測設備。
2 技術參數
2.1 觸發電流範圍：0—500mA
2.2 少子壽命測量範圍：0.1—99μs
2.3 測試分辨率：0.1µs
2.4 重複測試頻率：1Hz
2.5 工作條件
電源:AC 220V±10% 50HZ
溫度：0—40℃
2.6 整機功耗：小於(yu) 50VA
2.7 整機重量：約10Kg
2.8 整機尺寸：440×150×440mm
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