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微機塞曼效應實驗儀(yi) 型號： SM-Ⅲ
用途和目的
SM-Ⅲ微機塞曼效應實驗儀(yi) 為(wei) 塞曼效應實驗儀(yi) 的更新換代產(chan) 品，它利用光電機的一體(ti) 化與(yu) 計算機技術，提高塞曼實驗儀(yi) 的現代化程度。采用高靈敏度及高分辨率的CCD圖像傳(chuan) 感器，既可把塞曼效應的幹涉圖像在監視器屏幕上顯示，又可通過圖像采集箱數字化由USB接口輸入微機，在微機顯示器上顯示圖像，通過精心編製的塞曼效應分析軟件可從(cong) 屏幕上測量幹涉條紋直徑，進而求出電子荷質比和實驗誤差，並可將結果及圖像輸出打印。
SM-Ⅲ微機塞曼效應實驗儀(yi) 技術參數及特點
* 光源采用GGQ-20WHg筆形汞燈，譜線範圍400.0nm～577.0nm；
* 濾色片中心波長：365.0nm；
* 實驗誤差：≤5%；
* 與(yu) 微機連接方式：USB2.0；
* 可實現塞曼效應的幹涉圖樣的快速采集與(yu) 分析，節約實驗時間；
* 直觀性好，可靠性好，圖像明亮清晰反差大，不用在暗室內(nei) 工作；
* 儀(yi) 器調節方便、簡捷、工作量小，減少了該實驗的難度；
* 易於(yu) 控製，便於(yu) 自動化處理；
* 可做縱向塞曼效應的觀察；
* 磁場裝置為(wei) 永jiu磁鐵，磁場強度高、體(ti) 積小、重量輕，便於(yu) 工作攜帶。
SM-Ⅲ微機塞曼效應實驗儀(yi)
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