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數字式四探針電阻率測試儀(yi) 型號：SX1944
產(chan) 品說明
四探針測試儀(yi) 是運用四探針測量原理的多用途綜合測量裝置。廣泛用於(yu) 半導體(ti) 廠家、太陽能行業(ye) ，還能滿足科研單位的精密研究。
產(chan) 品特點
四探針測試儀(yi) 是根據單晶矽物理測試方法國家標準並參考美國A.S.T.M 標準設計的半導體(ti) 材料電阻率及方塊電阻（薄層電阻）測試儀(yi) 器。
儀(yi) 器以大規模集成電路為(wei) 核心部件，采用旋扭式開關(guan) 控製，及各種工作狀態LED指示。應用微計算機技術，使得測量讀數更加直觀、快速。整套儀(yi) 器體(ti) 積小、功耗低、測量、測試速度快、穩定性好、易操作。
型號SX1944
測量範圍電阻率：10-4～105Ω-cm 方塊電阻：10-3～106Ω/□ 電阻：10-4～105Ω
可測半導體(ti) 材料尺寸直徑：Φ15～100mm
測量方位軸向、徑向均可
數字電壓表⑴量程： 200mV
⑵誤差：± 0.1% 讀數± 2 字
⑶大分辨力：10μV
顯示 : 4位半數字顯示。小數點自動顯示
數控恒流源⑴電流輸出：直流電流 0 ～ 100mA 連續可調，由交流電源供電。
⑵量程： 1 μ A ， 10 μ A ， 100μA ， 1mA ， 10mA ， 100mA
⑶誤差：± 0.5% 讀數± 2 字
四探針測試探頭⑴探 針 間 距： 1mm
⑵探針機械遊移率： ± 1.0%
⑶探 針： 碳化鎢，Φ 0.5mm
⑷壓 力： 0 ～ 2kg 可調 , 大壓力約 2kg
電源輸入 : AC 220V ± 10% 50Hz 功 耗： <20W
外形尺寸主機 260mm （長）× 210 mm （寬）× 125mm （高）
備注USB 接口，配軟件
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