全國服務谘詢熱線：
13121899399
13121899399
四探針電阻率檢測儀(yi) 型號：SB100A/2
由於(yu) 金屬塊體(ti) 材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，他們(men) 的測量采用四端接線法。為(wei) 了滿足實際的需要，本儀(yi) 器采用四探針法原理來實現對不同金屬、半導體(ti) 、導電高分子材料的電阻及電阻率的測量。可用於(yu) 高校物理教育實驗，對導體(ti) /半導體(ti) /金屬薄膜材料的電阻 及電阻率的測試及研究。本產(chan) 品的電阻測量範圍可達10-6—106Ω。
（使用環境5—40℃，相對濕度<80%，供電220V 50Hz，為(wei) 實驗室環境使用）
SB100A/2由SB118直流電壓電流源、PZ158A直流數字電壓表、SB120/2四探針樣品測試平台三部分組成。
lSB118直流電壓電流源：是一台4½位的電壓源及電流源，既可輸出5µV—50V，5檔可調電壓，基本誤差為(wei) ±（0.1%RD+0.02%FS）又可輸出1nA—100mA，5檔可調電流，基本誤差為(wei)
±（0.03%RD+0.02%FS）詳見本公司產(chan) 品SB118。
l PZ158A直流數字電壓表：具有6½位字長，0.1μV電壓分辨力的帶單片危機處理技術的高精度電子測量儀(yi) 器，可測量0-1000V直流電壓。基本量程的基本誤差為(wei) ±（0.002%RD+0.0005%FS），詳見本公司產(chan) 品PZ158A。
l SB120/2四探針樣品測試平台：該測試平台是SB120/1測試平台的改進型。其有底座、支架、旋動部件、樣品平台、四探針及接線板等組成。由於(yu) 其整個(ge) 結構及旋動方式都在原SB120/1的基礎上作了很大的改進，故在高校的物理實驗及科學研究總為(wei) 導體(ti) /半導體(ti) /金屬薄膜材料的電阻和電阻率的測試、研究提供了較大的方便。
您的位置：
在線交流
谘詢電話