瞬態平麵熱源法導熱儀

簡要描述：瞬態平麵熱源法導熱儀(yi) 型號：TCDR-S

一、產(chan) 品簡介
TCDR-S是利用瞬態平麵熱源技術（TPS）開發的導熱係數測試儀(yi) ,可用於(yu) 各種不同類型材料的熱傳(chuan) 導性能的測試。瞬態平麵熱源法是研究熱傳(chuan) 導性能方法中的一種，它使測量技術達到了一個(ge) 全新的水平。在研究材料時能夠快速準確的測量熱導率，為(wei) 企業(ye) 質量監控、材料生產(chan) 以及實驗室研究提供了的方便。該儀(yi) 器操作方便，方法簡單易懂，不會(hui) 對被測樣品造成

產(chan) 品型號： TCDR-S

所屬分類：專(zhuan) 業(ye) 儀(yi) 器

更新時間：2024-10-09

廠商性質：其他

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詳情介紹

品牌	其他品牌	加工定製	否

產品名稱：瞬態平麵熱源法導熱儀
產品型號：TCDR-S

瞬態平麵熱源法導熱儀(yi) 型號：TCDR-S

一、產(chan) 品簡介
      TCDR-S是利用瞬態平麵熱源技術（TPS）開發的導熱係數測試儀(yi) ,可用於(yu) 各種不同類型材料的熱傳(chuan) 導性能的測試。瞬態平麵熱源法是研究熱傳(chuan) 導性能方法中的一種，它使測量技術達到了一個(ge) 全新的水平。在研究材料時能夠快速準確的測量熱導率，為(wei) 企業(ye) 質量監控、材料生產(chan) 以及實驗室研究提供了的方便。該儀(yi) 器操作方便，方法簡單易懂，不會(hui) 對被測樣品造成損壞。

二、工作原理
      瞬態平麵熱源技術(TPS)是用於(yu) 測量導熱係數的一種新型的方法，由瑞典Chalmer理工大學的Silas Gustafsson教授在法的基礎上發展起來的。它測定材料熱物性的原理是基於(yu) 無限大介質中階躍加熱的圓盤形熱源產(chan) 生的瞬態溫度響應。利用熱阻性材料做成一個(ge) 平麵的探頭，同時作為(wei) 熱源和溫度傳(chuan) 感器。合金的熱阻係數一溫度和電阻的關(guan) 係呈線性關(guan) 係，即通過了解電阻的變化可以知道熱量的損失，從(cong) 而反映了樣品的導熱性能。該方法的探頭即是采用導電合金經刻蝕處理後形成的連續雙螺旋結構薄片，外層為(wei) 雙層的絕緣保護層，厚度很薄，它令探頭具有一定的機械強度並保持與(yu) 樣品之間的電絕緣性。在測試過程中，探頭被放置於(yu) 樣品中間進行測試。電流通過探頭時，產(chan) 生一定的溫度上升，產(chan) 生的熱量同時向探頭兩(liang) 側(ce) 的樣品進行擴散，熱擴散的速度依賴於(yu) 材料的熱傳(chuan) 導特性。通過記錄溫度與(yu) 探頭的響應時間，由數學模型可以直接得到導熱係數。

三、測試對象
      金屬、陶瓷、合金、礦石、聚合物、複合材料、紙、織物、泡沫塑料（表麵平整的隔熱材料、板材）、礦物棉、水泥牆體(ti) 、玻璃增強複合板CRC、水泥聚苯板、夾心混凝土、玻璃鋼麵板複合板材、紙蜂窩板、膠體(ti) 、液體(ti) 、粉末、顆粒狀和膏狀固體(ti) 等等，測試對象廣泛。

四、儀(yi) 器特點
1、儀(yi) 器參考標準：ISO 22007-2 2008
2、測試範圍廣泛，測試性能穩定；
3、直接測量，測試時間5-160s左右可設置，能快速準確的測出導熱係數，節約了大量的時間；
4、不會(hui) 和靜態法一樣受到接觸熱阻的影響；
5、無須特別的樣品製備，對樣品形狀並無特殊要求，塊狀固體(ti) 隻需相對平滑的樣品表麵並且滿足長寬至少為(wei) 探頭直徑的兩(liang) 倍即可；
6、對樣品實行無損檢測，意味著樣品可以重複使用；
7、探頭采用雙螺旋線的結構進行設計，結合專(zhuan) 屬數學模型，利用核心算法對探頭上采集的數據進行分析計算；
8、樣品台的結構設計巧妙，操作方便，適合放置不同厚度的樣品，同時簡潔美觀；
9、探頭上的數據采集使用了進口的數據采集芯片，該芯片的高分辨率，能使測試結果更加準確可靠；
10、主機的控製係統使用了ARM微處理器，運算速度比傳(chuan) 統的微處理器快，提高了係統的分析處理能力，計算結果更加精確；
11、儀(yi) 器可用於(yu) 塊狀固體(ti) 、膏狀固體(ti) 、顆粒狀固體(ti) 、膠體(ti) 、液體(ti) 、粉末、塗層、薄膜、保溫材料等熱物性參數的測定；

五、技術參數：
測試範圍:0.005—300 W/(m*K)
測量樣品溫度範圍:室溫—130℃
探頭直徑：一號探頭7.5mm；二號探頭15mm
精度:±3%
重複性誤差:≤3%
測量時間:5~160秒
電源:AC 220V
整機功率：﹤500w
樣品溫升﹤15℃
測試樣品功率P：一號探頭功率0樣品規格：一號探頭所測單個(ge) 樣品（15*15*3.75mm）
                二號探頭所測單個(ge) 樣品 (30*30*7.5mm)
注：1號探頭所測的是厚度較薄的低導材料。如所測樣品表麵光滑平整且具有粘性可將樣品進行疊加

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