織物感應式靜電測試儀

織物感應式靜電測試儀(yi) 感應式靜電測試儀(yi)   型號：FZY-M401

主要用途
本儀(yi) 器於(yu) 在實驗室條件下測定各種紡織原料和製成品（含纖維、紗線、織物、地毯、裝飾織物）的靜電性能，也可用來測定其它片（板）狀材料如紙張、橡膠、塑料、複合板材等的靜電性能。儀(yi) 器主機由電暈放電裝置、探頭和檢測係統組成。利用給定的電場，對被測試樣定時放電，使試樣感應靜電，從(cong) 而進行靜電電量大小、靜電壓半衰期、靜電殘留量的檢測，以確定被測試樣的靜電性能。

織物感應式靜電測試儀(yi) 感應式靜電測試儀(yi)  

1、特別設計的發生電路確保在0--10000V範圍內(nei) 連續、線性可調，數字顯示電壓值，調節直觀、方便。
2、發生電路采用全封閉模塊結構，電子電路實現關(guan) 斷和開啟，克服了國內(nei) 同類產(chan) 品發生電路容易引起觸點打火的缺點，使用安全可靠。
3、 靜電壓的衰減期共9檔可任意選擇：10%、20%、30%、40%、50%（半衰期）、60%、70%、80%、90%。
4、可分別采用定時法和定壓法進行測試，儀(yi) 器采用數字表直接顯示放電時的瞬時峰值、半衰期值（或殘留靜電壓值）和衰減時間。自動關(guan) 停、自動關(guan) 停電機，操作方便。 
5、M401B型儀(yi) 器具有打印機接口，用以配接麵板式微型打印機。 

1、靜電電壓值的測量範圍 0 ～ 10KV
2、半衰期時限範圍 0 ～ 10000秒，誤差±1秒
3、試樣盤轉速1500轉/分
4、放電時間 0 ～ 99 秒可調（標準要求：30秒±0.1秒） 
5、針形電與(yu) 試樣之間放電距離：20mm
6、測試探頭與(yu) 試樣之間的測量間距：15mm
7、試樣及尺寸：60mm×80mm三塊
8、儀(yi) 器在發出之前均已進行過靜電壓校正
9、電源：220V 50HZ 300W 

 標準

產(chan) 品名稱：廠家 科爾奇空氣壓縮機 
產(chan) 品型號：MCH13/ET STD 意大利科爾奇

空氣壓縮機 型號(Model)：MCH13/ET STD   
品牌及產(chan) 地(Brand & Original Manufacturer):  意大利科爾奇（Aerotecnica Coltri,Italy）   
驅動馬達(Motor):三相電動機馬達 380 伏 4 千瓦(three-phase electric motor 380V 4KW)   
壓縮機排量(Charging Rate):215 升/分鍾(215L/Min)   
工作壓力(Working Pressure):225 & 330 Bar  轉速(Pumping Unit): 1350 轉每分鍾(rpm)   
尺寸  (Dimension):高(Height):63CM 長(Length):83CM 寬(Width):43CM  重量(Weight):100KG   
噪音(Noise):80.7dB  缸體(ti) 數量(Number of Stages & Cylinders):3   
潤滑油及加油量(Lubricant Oil & Capacity): CE750 & 1.6L   
呼吸空氣標準(Breathing Air):EN12021 CGAE; ISO3746; DIN3188  
性能特點(Features)  
意大利整機*，性能可靠，運行穩定，安全性高。  
全不鏽鋼中間級及末級冷卻係統，耐久全鋼噴塑底盤及把手。  
中英文使用說明書(shu) 以及英文使用說明書(shu) *頁的 CE 歐洲標準認證。  
德國原裝壓力表防震功能，讀數變得更輕鬆更簡單。  
三重過濾係統保障氣體(ti) 更潔淨，高純度合成潤滑油讓壓縮機運行更穩定，壽命更。  
級間安全閥保證每一級氣缸的安全。  
壹年質量保證，客戶使用更安心。

產(chan) 品名稱：大容量冷凍離心機 低速大容量冷凍離心機
產(chan) 品型號：DT5-4D

大容量冷凍離心機 低速大容量冷凍離心機型號：DT5-4D

DT5-4D型大容量冷凍離心機廣泛應用於(yu) 血站、製藥廠、生物化學、生物製品等生產(chan) 科研單位，是血液分離，蛋白沉澱，細胞分離收集的理想設備。

儀(yi) 器特點：

無碳刷大力矩變頻電機，免維護，升降速快；進口無氟壓縮機組，控溫；自動門鎖，速、溫自動保護，不平衡保護，機身采用優(you) 質鋼材結構，安全可靠；可對各種凝膠產(chan) 生的氣泡在不同溫度下，進行壓縮清除。並可根據用戶需求生產(chan) 適配不同形狀和規格的轉子。廣泛應用於(yu) 血站、製藥廠、生物化學、生物製品等生產(chan) 科研單位，是血液分離，蛋白沉澱，細胞分離收集的理想設備。

技術參數:

產(chan) 品名稱：電路板故障維修測試儀(yi)
產(chan) 品型號：GT4040UXP-Ⅱ

新型的GT4040UXP-Ⅱ可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等係統下工作，帶有USB接口，雙CPU工作，速度更快，效率更高。可測三端器件，另外有俄羅斯庫，西門子庫，可定量測試L，C，R參數,,可對運算放大器，光耦，三端電源進行測試。 
。 

產(chan) 品特點：  
在維修各種電子設備時，您是否常因圖紙資料不全而束手無策？您是否常因高昂的維 
修費用而增添煩惱？ 

[GT]係列檢測儀(yi) 幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用，全部智能化。它利 
用電腦來彌補人工維修能力的不足，能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原 
理的情況下，對各種類型的電路板進行ASA分析或ICT測試，在線檢測元器件好壞，迅速檢 
測到電路板上故障元器件。簡捷經濟地修好各種類型電路板。 

產(chan) 品特點： 

◆的測試技術，強大的驅動能力，任何故障原因的電路板皆可修好 
◆友好簡單的中文操作界麵，不經專(zhuan) 業(ye) 訓練，任何人均可成為(wei) 維修專(zhuan) 家 
◆無需電路原理圖，不必知道器件型號，對任何電路板皆可快速維修 
◆40×2路數字電路測試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規模集成電路數據庫； 
◆40×2（ASA）V/I，曲線分析測試功能 
◆電路板測試存儲(chu) 功能，被測板可與(yu) 之比較 
◆與(yu) 進口同類儀(yi) 器比較，性價(jia) 比更優(you) ，操作更方便 
◆通用於(yu) 各類雙列直插式封裝芯片，可為(wei) 大中規模集成電路提供分析測試。 
◆本功能亦可通過學習(xi) 記錄，比較分析來測試。  

技術規格： 
Windows界麵可在WIN98，WIN2000，WIN XP 等係統下工作 
雙CPU工作，速度更快，效率更高。 
功能測試40×2通道 
VI曲線測試40×2通道 
雙測試夾VI曲線測試 
網絡提取 程控加電 
EPROM/RAM在線讀取 
模擬器件 VI曲線測試 
總線隔離信號 
中文維修筆記 

一、序言 
GT/ICT係列測試儀(yi) 已推出近十年。一方麵漸入人心，一方麵用戶也有了更高的要求。我公司集多年不懈努力，成功研製出換代產(chan) 品GT/ICT-Ⅱ係 

列，把GT/ICT測試儀(yi) 發展到了一個(ge) 新的階段，能夠更好的滿足用戶的實際需求。 
從(cong) 測試技術方麵來看，GT/ICT測試儀(yi) 是“後驅動”、“器件模擬端口分析（ASA）”測試技術的簡單使用，而GT/ICT-Ⅱ係列是在跟隨這兩(liang) 項技 

術在上的xin發展，在總結了多年來的實際應用經驗的基礎上重新設計而成，因而有更好的測試效果；從(cong) 產(chan) 品的軟、硬件實現技術方麵來 

看，GT/ICT軟件脫胎於(yu) DOS係統，主要由中小規模集成電路組成，而GT/ICT-Ⅱ係列*在Windows平台上打造，大量采用了大規模EPLD、表麵貼 

裝器件等現代電路設計技術，因而具有更友好的人-機界麵，更高的技術指標和可靠性。  
全麵提高技術水平的目的，是改進、擴充測試功能。為(wei) 突出重點，先在本文中介紹對兩(liang) 個(ge) 常用的測試功能：“ASA（VI）曲線測試”、“數 

字器件在線功能測試”的改進。（注意相同之處不再贅述，請參見GT/ICT測試儀(yi) 的相關(guan) 說明）。我們(men) 將在以後的文章中，介紹其它方麵的改進 

。 
需要說明的是，市場上的GT/ICT係列測試儀(yi) 有幾個(ge) 版本，總體(ti) 水平差別不大，僅(jin) 軟件界麵形式略有不同。本文主要以其中一種作為(wei) 參照。 

二、對ASA（VI）曲線測試的改進 
2.1 大大擴展了故障覆蓋範圍 
這裏擴展範圍，是指GT/ICT測試儀(yi) 不能測試，或測試效果不好，而GT/ICT-Ⅱ能夠測試，或測試效果有較大改進。 
2.1.1 測試三端器件 
GT/ICT測試儀(yi) 不能全麵檢測三端器件的好壞。GT/ICT-Ⅱ*解決(jue) 了這個(ge) 問題。 
三端器件是指閘流管（可控矽）、MOS三管、電壓調節器等具有三個(ge) 引出端，以及光藕、繼電器等可以等效成三個(ge) 引出端的器件。下麵以閘流 

管（可控矽）為(wei) 例，來說明GT/ICT-Ⅱ如何改進了對此類元件的測試。 
用GT/ICT測試閘流管，當ASA（正弦）測試信號加在它的陽和陰之間時，控製端沒有信號，閘流管處於(yu) 截止狀態，所以從(cong) 曲線上隻能觀察到 

截止狀態是否正常（兩(liang) 之間是否短路、或有較大漏流），不能發現導通狀態是否正常。比如，會(hui) 把陽和陰開路的故障誤判成截止狀態正 

常。 
GT/ICT-Ⅱ設計了一個(ge) 脈衝(chong) 信號，測試時加在閘流管的控製端，控製閘流管在ASA（正弦）測試信號期間出現導通、截止兩(liang) 種狀態，實現了對閘 

流管進行全麵的檢測。 
例1：用GT/ICT-Ⅱ測出的*閘流管的曲線 

圖中橫線是否足夠水平反映了截止狀態是否夠好、豎線是否足夠垂直反映了導通阻抗是否足夠小、豎線與(yu) 縱軸的間距就是導通電壓的大小。 

（GT/ICT測試儀(yi) 隻能測出一根水平線。） 
測試不同的三端器件需要不同的控製方式——正弦波和脈衝(chong) 的匹配（同步）形式。為(wei) 了更好地滿足測試各種三端器件的不同要求，在GT/ICT-Ⅱ 

上共設置了八種匹配方式——脈衝(chong) 相對於(yu) 正弦波的起始、結束位置及寬度、高度均可調整；支持單向觸發、雙向觸發。詳細情況請參見產(chan) 品使 

用說明。 
2.1.2 自動曲線靈敏度調整 
GT/ICT測試儀(yi) 沒有ASA曲線對電路變化（故障）的自動靈敏度調整功能，有些本該能夠檢測出來的故障因此不能發現。 
我們(men) 來比較下麵三組電阻的ASA曲線。  

0.1K/0.15K 1K/1.5K 10K/15K 
*組顯示了0.1K和0.15K電阻的VI曲線；第二組1K和1.5K；第三組10K和15K。盡管實際電路的相對變化大小*相同，但看上去中間兩(liang) 條曲線 

差別大，兩(liang) 邊的要小得多。我們(men) 說，中間組的曲線靈敏度高，而兩(liang) 邊組的靈敏度低。由於(yu) ASA測試是通過曲線位置差異大小來發現故障的，所以 

，在故障測試中很可能隻判斷中間組有問題。 
可以證明，VI曲線的走向趨勢越接近45度，反映電路變化的靈敏程度越高；如果VI曲線是一個(ge) 封閉圖形，曲線包圍的麵積越大，靈敏度越高。 
曲線的靈敏度與(yu) 被測試點的特征和測試參數相關(guan) 。依據具體(ti) 的結點特征，調整測試參數，從(cong) 而得到較高靈敏度的曲線，叫做調整VI曲線（關(guan) 於(yu)  

電路故障的）靈敏度。 
GT/ICT-Ⅱ新增加了自動曲線靈敏度調整功能。對於(yu) 上麵三種情況，在選中自動靈敏度調整後，測到的三組曲線都和中間組一樣。 
2.1.3 測試大電容 
GT/ICT隻能測試大約兩(liang) 、三百微法的電解電容的好壞。GT/ICT-Ⅱ把檢測範圍擴大到了兩(liang) 萬(wan) 微法以上。 
排查電路板上容量較大的電解電容的漏電、容量變化導致的故障，是一件相當令人頭痛的事情。對維修測試來說，利用ASA曲線測試進行檢測可 



的麵積趨於(yu) 零），根本無法判別出好壞。GT/ICT-Ⅱ加寬了測試儀(yi) 的技術指標，對於(yu) 高達兩(liang) 萬(wan) 多微法的電容，都能測出一個(ge) 包圍了相當麵積的橢 

圓。 
2.1.4 給同一器件的不同管腳設置不同的測試參數 
GT/ICT沒有這個(ge) 功能，導致對有的器件測試效果差，有的器件無法測試。 
用GT/ICT測試儀(yi) 測試一個(ge) 有多個(ge) 管腳的器件的曲線，所有管腳都隻能使用同樣的測試參數，所有管腳都要依次測試一遍。但實際檢測中，確實 

存在不同管腳使用不同測試參數，來保證測試效果，也存在個(ge) 別管腳不允許測試的情況。 
比如，集電開路器件7403的輸入是標準TTL電平，而輸出大耐壓可達32V，常用於(yu) 驅動數碼管、繼電器等。測試這種器件，測試輸入、輸出 

腳的信號幅度要分別設置：對輸入應設在略大於(yu) 5V；對於(yu) 輸出應設置在略大於(yu) 負載電壓，小於(yu) 32V之間（比如驅動12V數碼管時一般用15V），才 

能達到全麵檢測的目的。GT/ICT測試儀(yi) 不能滿足這種使用要求。 
還有，電路板上帶電池的存儲(chu) 器裏麵有數據，在它的電源端、片選端不能加任何測試信號，否則會(hui) 導致數據丟(diu) 失。GT/ICT測試儀(yi) 不能測試這類 

器件。 
GT/ICT-Ⅱ測試儀(yi) 考慮到了這些情況。允許分管腳設置測試參數，也允許不做測試的管腳。 
2.2 大大提高了測試可靠性 
測試可靠性是指測試結果能真實反映實際情況，不會(hui) 導致用戶誤判故障的能力。 
2.2.1 曲線穩定性問題 
GT/ICT測試儀(yi) 不能發現不穩定曲線，會(hui) 把好電路誤判為(wei) 有故障。 
即使電路**，也存在這樣的情況——在同一個(ge) 管腳上，每次測到的曲線有明顯不同。這種情況叫做該處的曲線不穩定。產(chan) 生不穩定 

曲線的原因以及如何讓曲線穩定下來的辦法請參見“電路在線維修測試儀(yi) 上的ASA測試”。《設備管理與(yu) 維修》2006.6,2006.7。但測試儀(yi) 先 

要能夠把不穩定曲線識別出來，然後才談得到處理，否則就可能把好電路誤判為(wei) 有故障。 
GT/ICT-Ⅱ能夠把不穩定曲線識別出來，並且能具體(ti) 指示出哪一個(ge) 管腳上的曲線不穩定，這無疑有助於(yu) 提高測試結果的可靠性。 
2.2.2 接觸問題 
使用測試夾學習(xi) ASA曲線的時候，器件管腳氧化、防鏽塗層未打磨幹淨、測試夾引腳磨損等原因，經常造成夾子引腳與(yu) 器件引腳接觸不上，結果 

學習(xi) 到了一條虛假的開路曲線；比較曲線時也有同樣問題。這種不可靠的曲線會(hui) 導致誤判，所以在實際使用中，一旦發現開路曲線，都要再次 

確認，比如打磨該引腳後重測。 
問題在於(yu) 使用測試夾測試時，一次測試要處理許多條曲線。曲線多了以後，往往不能在一屏上一起都顯示出來。象GT/ICT測試儀(yi) 那樣，靠人工 

從(cong) 許多條曲線中確認有無開路曲線，得來回翻屏或滾屏，不但效率低，而且容易漏檢。 
GT/ICT-Ⅱ設計了自動開路曲線偵(zhen) 測、提示功能。在一次測試到的所有曲線中，隻要存在開路曲線，會(hui) 給出多種提示信息。根據提示很容易找到 

它在哪個(ge) 管腳上，很難漏檢。 
2.2.3 平均曲線 
當測試大量的相同對象（比如一批同樣的電路板或相同器件）時，使用從(cong) 哪個(ge) 好的電路板或器件上學習(xi) 到的曲線作為(wei) 參照標準 
使用GT/ICT-Ⅱ測試儀(yi) ，可以先學習(xi) 幾個(ge) 好的電路板或器件，得到多個(ge) 文件，然後利用平均曲線功能，把這些文件中的曲線自動求平均後，再自 

動生成一個(ge) 新的曲線文件，作為(wei) 以後的測試比較標準。該功能通常用於(yu) 建立高質量的標準曲線庫。 
2.3 大大提高了使用效率 
2.3.1 迅速發現並找到異常曲線（開路、不穩定、比較差） 
用測試夾進行測試時，一次會(hui) 提取、顯示出多條曲線。如何才能迅速判定這些曲線中是否有異常曲線（開路、不穩定、差），並迅速找到異 

常曲線呢？ 
使用GT/ICT，需要用戶把所有曲線逐一檢查一遍後進行判斷。不但效率，而且容易漏判。為(wei) 此，GT/ICT-Ⅱ增加了新的顯示手段。 
1．前麵已經說明，GT/ICT-Ⅱ能夠自動檢測異常曲線。在一次測試中哪怕隻有一條異常曲線，先在屏幕上部顯著位置提示：有開路曲線或有 

不穩定曲線或比較差，以引起用戶注意；  
2．在學習(xi) 曲線時，增加了按先異常、後正常排列方式，將異常管腳曲線排列在其它管腳曲線的前麵；  
3．在曲線比較時，增加了按曲線誤差大小順序排列的方式，自動將誤差較大的曲線排在前麵（由於(yu) 比較時主要關(guan) 心差曲線）； 
4．打開管腳列表窗口，直接提示在管腳號的旁邊。 
2.3.2 測試曲線 
一次測試了多條管腳曲線後，可能對某個(ge) 管腳曲線有疑問，或不太滿意。比如，有異常曲線，要進行適當處理（比如對開路曲線，打磨該管腳 

）後重測；或者想修改某條曲線的設置參數後，再重測該條曲線，觀察其變化。使用GT/ICT-Ⅱ，在做完處理後，你隻要用鼠標雙擊某曲線，就 

將僅(jin) 僅(jin) 測試這條曲線，其它曲線*不受影響。方便、快捷。 
2.3.3 由管腳號查找曲線 
當一次測試的曲線較多，一屏顯示不下時，要來回翻屏或滾屏才能查看某個(ge) 管腳的曲線，影響效率。GT/ICT-Ⅱ增加了直接從(cong) 管腳號查找曲線的 

功能。隻要在腳號列表窗口中雙擊某腳號，就自動把該管腳的曲線移到屏幕顯示區，並用彩色框框起來。十分快捷。 
2.3.4 聲音提示 
雙探棒直接對照測試方式相當常用。用GT/ICT進行測試時，每測試一個(ge) 引腳，要先低頭——把兩(liang) 個(ge) 探棒穩定接觸在相應被測管腳上，然後再抬 

頭看屏幕——確認對照結果，一上一下，有人開玩笑稱為(wei) “雞啄米”。當處理的腳數多時，相當辛苦且影響效率。 
GT/ICT-Ⅱ上設置了聲音提示。隻要比較不差（這是大多數情況），計算機就發出“嗒嗒”的提示聲，類似於(yu) 使用萬(wan) 用表的BEEP擋，基本解決(jue)  

了這個(ge) 問題。 
2.4 大大改善了人-機界麵友好程度 
2.4.1 三種曲線坐標 
GT/ICT隻在電壓(V)-電流坐標(I)上顯示器件的端口特征曲線，這也是通常把ASA測試叫做VI曲線測試的原因。但對有的測試結果，換一種坐標 

可能更容易理解曲線所反映的電路問題。這就好比解析幾何中有直角坐標係、又有坐標係一樣。 
GT/ICT-Ⅱ測試儀(yi) 提供三種坐標：電壓(V)-電流(I)坐標、時間(T)-電壓(V)坐標和電壓(V)-電阻(R)坐標。下麵給出*閘流管在兩(liang) 種不同坐 

標下的曲線。 



電壓(V)-電流(I)坐標 時間(T)-電壓(V)坐標 
注意右邊的曲線。在測試（正弦）信號的四分之一處，控製上的觸發信號使閘流管導通，曲線變成一段水平線。水平線距橫軸的距離就是閘 

流管的飽和電壓。 
2.4.2 在曲線上提示參數（Tooltips） 
把鼠標光標放在曲線上，GT/ICT-Ⅱ利用Tooltips技術顯示出光標處的參數。十分方便。請參見上圖。 
2.4.3 管腳命名 
GT/ICT在管腳曲線上提示的管腳號隻是阿拉伯數，並且所有管腳隻能按數字順序一維排列。這在有些時候為(wei) 不方便。 
比如，有的器件管腳是兩(liang) 維排列的。橫著數是a、b、c……，豎著數是1、2、3……。b3表示位於(yu) 第二列，第三行的管腳；有的電路板外引腳有 

上百個(ge) ，對有的特別引腳會(hui) 有專(zhuan) 門標識—常見的是標識它上麵的信號名稱。如果隻能用一維數字作為(wei) 管腳名，查找起來為(wei) 不便。 
GT/ICT-Ⅱ既能夠自動對管腳按一維排列方式分配管腳序號，也允許用戶給管腳命名。序號和用戶命名同時提示在相應曲線上。查找起來非常方 

便。 
2.4.4 自定義(yi) 曲線顯示顏色 
不同人對顏色有不同偏好。工作在不舒服的顏色下易於(yu) 疲勞。GT/ICT-Ⅱ允許用戶修改曲線、坐標、字符、背景等的顏色設置。為(wei) 自己營造 

一個(ge) 較為(wei) 舒服的工作環境。 

三、對數字器件在線功能測試的改進 
數字器件在線功能測試，是指對電路板上的器件直接進行邏輯功能好壞的檢測。對這項功能的改進主要包括三個(ge) 方麵： 
1．加強對測試條件的檢查能力； 
2．加強用戶對測試過程的控製； 
3．加強對被測試器件的在線工作環境的識別能力。 
通過上述改進，有效提高了測試結果的準確性。 

3.1對測試條件檢查能力的加強 
3.1.1 接觸檢查 
測試夾與(yu) 被測器件接觸不好可能會(hui) 造成錯誤測試結果。GT/ICT-Ⅱ在檢查到測試夾引腳對地電阻大於(yu) 約1M歐時，會(hui) 提示接觸不良（開路）。 
不過提示開路不一定總有接觸問題。比如使用在線測試功能，測試處於(yu) 離線狀態的CMOS器件時，由於(yu) 這種器件的輸入阻抗很高，所有輸入腳都 

會(hui) 判成開路。 
實用中如果測試失敗並且提示有開路狀態，應確認是否屬於(yu) 正常情況。如果測試成功，一般可忽略。 
3.1.2 電源電壓檢查 
這項測試要求必須給被測電路板加電。TTL器件的標稱工作電壓是5V±5%。電源電壓不達標有可能導致器件工作不正常。GT/ICT-Ⅱ在測試前會(hui)  

自動檢查器件上的電壓是否達標。當電源電壓*，將給出警告提示； 
3.1.3 非法電平檢查 
本測試儀(yi) 僅(jin) 支持5V的TTL、CMOS器件的測試。正常情況下器件所有管腳上的電平值總在大於(yu) 0V，小於(yu) 5V之間。但對一個(ge) 有故障的電路板來說，什 

麽(me) 情況都有可能發生。GT/ICT-Ⅱ在測試時一旦檢測到器件上有過電壓區間20%的電平值，將立即給以提示。為(wei) 了安全起見，不再繼續測試下 

去。 
3.2對用戶控製測試過程的加強 
3.2.1 調整閾值電平 
當TTL器件的輸出低於(yu) 0.8V，說它輸出為(wei) 低（電平）；高於(yu) 2.4V，說它輸出為(wei) 高（電平）。這裏的0.8V，2.4V就是TTL的低、高標準閾值電平。 

大致上說，器件的高電平越高，低電平越低越好。GT/ICT的閾值電平是做死的，不能調整。GT/ICT-Ⅱ從(cong) 硬件上進行了擴充，允許用戶修改閾值 

電平。比如，允許設為(wei) 0.5V，3.0V進行測試。 
這是一項很有價(jia) 值的改進。實用經驗表明，使用在線維修測試儀(yi) 測試一個(ge) 真正好的TTL數字器件，它的高電平會(hui) 遠高於(yu) 標準高閾值2.4V，低電平 

比標準低閾值0.8V低很多。究其原因，可能是在線維修測試儀(yi) 的測試速度比器件的實際工作速度低很多，分布參數造成的負載輕很多；反之， 

如果測試到一個(ge) 器件的高、低電平很接近標準閾值，這往往表示該器件的驅動能力已明顯下降，雖然能通過測試，但不能保證上機正常工作

。 
3.2.2 修改測試頻率 
GT/ICT-Ⅱ的測試頻率分4檔可選：45Ktv/S，20Ktv/S，5Ktv/S，1 Ktv/S（Ktv/S=千條測試向量/每秒）。缺省值為(wei) 20Ktv/S。實際測試時，可根 

據具體(ti) 情況選用。比如74HC類低功耗器件，測試失敗後可降低速度再試一次。 
3.2.3 加電延遲時間 
在進行測試時，GT/ICT-Ⅱ自動控製給電路板加電——測試一個(ge) 器件的瞬間接通電源，測試完成後關(guan) 斷。這樣的好處是避免用戶誤操作損壞電路 

扳，帶來的問題是由於(yu) 電路板上一般有較大電源濾波電容，加電後，電路板上的電源電壓是逐步上升的，需要延遲一段時間後才能達到預期值 

。不同大小的電路板需要的延遲時間不同。所以GT/ICT-Ⅱ允許用戶設定接通電源延遲多長時間後開始測試。 
3.3對器件在線工作環境識別能力的加強  
測試電路板上的器件時必須使用適當的隔離技術來消除關(guan) 聯器件對被測試器件的影響。後驅動隔離技術專(zhuan) 門用於(yu) 數字器件的在線測試隔離。 
後驅動技術有一定的使用條件，不滿足這些條件就會(hui) 由於(yu) 隔離不成功而測試失敗，把好器件測成壞器件。對在線器件工作環境的識別，就是盡 

量把影響後驅動技術正確使用的情況檢查出來，避免誤判。 
3.3.1後驅動技術原理及應用中的問題 
後驅動技術是美國人在上世紀60年代發明的。可簡單說明如下： 
電路結點一般由器件的一個(ge) 輸出和若幹個(ge) 輸入組成。參見圖一。設測試U3，就要在U3各輸入腳所在的電路結點上施加測試信號。由於(yu) 決(jue) 定結點 

電位的是器件輸出而不是輸入，參見圖中的X結點，在該結點上加信號實質上是如何驅動U1的、與(yu) X引腳關(guan) 聯的輸出，使它能夠根據測試要求為(wei)  

高或為(wei) 低。U3的輸出可以直接取回來。 
假定X結點當前狀態為(wei) 低電平，怎樣把它驅動至高電平呢？參見圖二給出的TTL器件的典型輸出結構。 


輸出低電平時，Q1截止，Q2飽合，這個(ge) 低電平就是Q2的飽合壓降，約在0.3V以下。Q2的飽和條件為(wei) ：β2*Ib2>>Ic2。通過測試儀(yi) 給Q2的集電 

注入一個(ge) 足夠大的電流，使Ic2變得很大，Q2脫離飽合，它的輸出就會(hui) 升起來。問題在於(yu) Q2上的功耗：P=Ic2*Vce2 會(hui) 隨Ic2、Vce2的增加迅速增 

加到P > Pcm（大額定功耗）。這是否會(hui) 損壞Q2呢？後驅動技術證明，隻要驅動時間不過26毫秒，不會(hui) 有問題。在發達，滿足這個(ge) 時間 


對於(yu) 輸出為(wei) 高而要驅動為(wei) 低的情況，分析方法相同，隻是把向Q2集電灌電流改為(wei) 從(cong) Q1發射拉電流。 
從(cong) 以上對後驅動技術的說明可以看出： 
1．後驅動技術用於(yu) 隔離數字器件之間的關(guan) 聯對測試的影響； 
2．假定一個(ge) 電路結點由一個(ge) 輸出多個(ge) 輸入組成； 
3．被測試器件上不能有其它邏輯信號； 
4．不能處理異步時序電路。 
然而在實際電路板上，確實存在著數字器件和非數字器件關(guan) 聯（比如數字器件輸出驅動晶體(ti) 管基、運放驅動數字器件輸入）、一個(ge) 電路結點 

上有不止一個(ge) 數字器件輸出（比如數據總線）、被測器件上有其它邏輯信號（比如板上有晶振）等等。這些情況經常會(hui) 影響後驅動技術的正確 

使用（一般稱作隔離不開），會(hui) 導致不正確的測試結果。 
3.3.2 對和非數字器件相關(guan) 聯的處理 
這種情況造成隔離失敗的原因，主要是結點電位被非數字器件鉗死，或者驅動信號被非數字器件吸收，加不上去（也相當於(yu) 電平被鉗位）。下 

圖中給出了兩(liang) 種常見的結構。 

GT/ICT-Ⅱ能把這些情況識別出來，以管腳狀態的形式提示給用戶，當器件測試失敗後，供用戶進一步分析。GT/ICT-Ⅱ能夠識別出6種與(yu) 此相關(guan)  

的管腳狀態： 
電 源：恒高且為(wei) 電源腳； 
恒 高：不可驅動至低於(yu) 高閾值； 
不可高：不可驅動至高於(yu) 高閾值； 
不可低：不可驅動至低於(yu) 低閾值； 
恒 低：不可驅動至高於(yu) 低閾值； 
地 ：恒低且為(wei) 地腳。 
3.3.3 對多輸出結點的處理 
對多輸出結點通常要用總線競爭(zheng) 屏蔽信號（GUARD信號）去解除非被測試器件的輸出對被測器件輸出的影響。有的版本的GT/ICT測試儀(yi) 沒有 

GUARD信號、有的版本隻有1、2個(ge) GUARD信號—－這在許多情況下不夠用；有的版本的GUARD信號不可控，僅(jin) 是通過一個(ge) 小電阻接到電源上——這 

不符合後驅動技術的要求，會(hui) 損壞被屏蔽器件。（詳細說明請參閱有關(guan) 文章） 
GT/ICT-Ⅱ設置了8個(ge) *後驅動技術的要求GUARD信號，並且用戶可控。 
3.3.4 對板上有邏輯信號的處理 
電路板上的邏輯信號可能幹擾正確測試。GT/ICT-Ⅱ在測試前會(hui) 進行檢查。如果在被測器件的管腳上發現有邏輯信號，會(hui) 作為(wei) 一種管腳狀態“有 

翻轉”提示出來。由於(yu) 這種情況可能影響、也可能不影響測試結果，所以當測試成功後，可忽略；當測試失敗時，才需要用戶處理。 
3.3.5輸入浮動 
管腳狀態“輸入浮動”一般情況下是該管腳懸空。除非該管腳直接與(yu) 電路板的插腳相連，否則意味著該腳斷線。盡管這並不影響對該器件的測 

試，但它反映了電路板上一個(ge) 可能的故障，所以也作為(wei) 一種管腳狀態提示出來。 
3.4 提高測試準確性的一般方法 
從(cong) 以上討論可以看出，受測試條件、器件工作環境的影響，在線測試的結果有一定的不確定性。從(cong) 進口測試儀(yi) 產(chan) 品來看，主要通過兩(liang) 種辦法來 

提高測試的準確性： 
1．加強對影響測試結果的外部因素的識別能力。在測試儀(yi) 產(chan) 品上的具體(ti) 體(ti) 現，就是的測試儀(yi) 能識別的管腳狀態種類多，低檔的能識別的狀 

態少。比如某進口測試儀(yi) 能識別約15種、GT/ICT-Ⅱ能識別約11種、GT/ICT大約僅(jin) 4、5種。 
2．由於(yu) 在線測試的不確定性，把整個(ge) 測試過程盡量詳細的顯示出來，供用戶結合測試結果進行進一步分析，這幾乎可以說是在線測試的基本設 

計原則之一。GT/ICT-Ⅱ比較好的貫徹了這個(ge) 原則。遺憾的是某些國產(chan) 測試儀(yi) 的設計者沒有真正理解這一點，有些測試功能僅(jin) 給出“測試通過” 

、或“測試失敗”的提示，測試過程幾乎沒有提示。 

四、結語 
電路在線維修測試儀(yi) 所依據的技術原理並不複雜，但是依據同樣這些技術做出的測試儀(yi) 產(chan) 品卻是千差萬(wan) 別，而且許多差別，是在你比較深入的 

了解了這項技術，有了相當的使用經曆後才能體(ti) 會(hui) 得到。希望本文能對進一步了解這種產(chan) 品提供幫助。