數字式矽晶體少子壽命測試儀

數字式矽晶體(ti) 少子壽命測試儀(yi)  型號：ZD-LT-100C
為(wei) 解決(jue) 太陽能單晶、多晶少子壽命測量，特按照國標GB/T1553及SEMI MF-1535用高頻光電導法研製出了數字式少子壽命測試儀(yi) 。                                                        
      數字式矽晶體(ti) 少子壽命測試儀(yi) 該設備是按照標準GB/T1553“矽單晶少數載流子壽命測定的高頻光電導衰減法”設計製造。高頻光電導衰減法在我國半導體(ti) 集成電路、晶體(ti) 管、整流器件、核探測器行業(ye) 已運用了三十多年，積累了豐(feng) 富的使用經驗，經過數次全國十多個(ge) 單位巡回測試的考驗，證明是一種成熟可靠的測試方法，特別適合於(yu) 矽塊、矽棒研磨麵的少子體(ti) 壽命測量；也可對矽片進行測量，給出相對壽命值。方法本身對樣品表麵的要求為(wei) 研磨麵，製樣簡便。

DZ-LT-100C有以下特點：
1、 可測量太陽能級多晶矽塊、單晶矽棒少數載流子體(ti) 壽命。表麵無需拋光，直接對切割麵或研磨麵進行測量。同時可測量多晶矽檢驗棒及集成電路、整流器、晶體(ti) 管級矽單晶的少子壽命。
2、  可測量太陽能級單晶及多晶矽片少數載流子的相對壽命，表麵無需拋光、鈍化。
3、配備軟件的數字示波器，液晶屏上直接顯示少子壽命值，同時顯示動態光電導衰退波形，並可聯用打印機及計算機。
4、配置兩(liang) 種波長的紅外光源：
a、紅外光源，光穿透矽晶體(ti) 深度較深≥500μm，有利於(yu) 準確測量晶體(ti) 少數載流子體(ti) 壽命。
b、短波長紅外脈衝(chong) 激光器，光穿透矽晶體(ti) 深度較淺≈30μm，但光強較強，有利於(yu) 測量低阻太陽能級矽晶體(ti) 。
5、測量範圍寬廣
測試儀(yi) 可直接測量：
a、研磨或切割麵：電阻率≥0.3Ω•㎝的單晶矽棒、定向結晶多晶矽塊少子體(ti) 壽命，切割片的少子相對壽命。
b、拋光麵：電阻率在0.3～0.01Ω•㎝範圍內(nei) 的矽單晶、鍺單晶拋光片。
壽命可測範圍     0.25μS—10ms     

產品名稱：數顯陶瓷彎曲強度試驗儀 產品型號： SGW

數顯陶瓷彎曲強度試驗儀(yi) 型號： SGW
    本儀(yi) 器適合GB6569-2006《精細陶瓷彎曲強度試驗方法》，GB1965《多孔陶瓷抗彎強度試驗方法》，於(yu) 作機械部件、結構材料等高強度工程陶瓷在室溫下三點彎曲強度的測定，也於(yu) 玻璃、耐火材料、保溫材料等非金屬材料的彎曲強度(即抗折強度）測試. 
主要技術參數： 
1、zui大載荷：10000、20000、50000（N）； 
2、加荷速度：5～700（N/S）可調； 
3、數據微電腦處理，精度0.5%； 
4、三相380V，1.5KW;

產品名稱：新宇宙 手持式可燃氣體檢測儀 可燃氣體檢測儀 產品型號：XP-311II

新宇宙 手持式可燃氣體(ti) 檢測儀(yi)  可燃氣體(ti) 檢測儀(yi) 型號：XP-311II

手持式可燃氣體(ti) 檢測儀(yi) 特點：

☆簡潔方便的大按鈕操作，一目了然的模擬指針式顯示，更易於(yu) 使用

☆基於(yu) 成熟且成功的XP-311A，專(zhuan) 為(wei) 中國市場設計。更經濟，更完善。

☆具有電量不足、傳(chuan) 感器故障、泵故障報警提示功能

☆具有高/低量程切換功能

☆具有內(nei) 置泵自動采樣功能

☆具有零點調整功能  

手持式可燃氣體(ti) 檢測儀(yi) 規格：

型     號XP-311II (帶報警)

檢測對象氣體(ti) 可燃性氣體(ti)

檢 測 原 理催化燃燒式

采 樣 方 法內(nei) 置泵自動吸引式

檢 測 範 圍0～10%LEL / 0～99%LEL

指 示 精 度滿量程的±2%

報 警 設 定 值20%LEL  

報 警 fang 式蜂鳴器鳴叫，紅色報警deng閃爍

響 應 時 間10秒以內(nei)

使用溫度範圍-40°C～+70°C

電      源5號幹電池4隻

防 爆 結 構Exibd II BT3(本安防爆設計加隔爆)

尺     寸W79×H161×D43.5（mm）

重      量約480g（含電池）

附屬品便攜包、背帶、4節5號幹電池、橡膠頭（AT-2）、排汙過濾器（DF-112）、過濾片（2片）