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差熱分析儀(yi) 是在程序控製溫度下，測量物質與(yu) 參比物之間的溫度差與(yu) 溫 度關(guan) 係的一種技術。差熱分析曲線是描述樣品與(yu) 參比物之間的溫度(△T) 隨溫度或時間的變化關(guan) 係。在 DTA 試驗中，樣品溫度的變化是由於(yu) 相轉變 或反應的吸熱或放熱效應引起的。如：相轉變，熔化，結晶結構的轉變，沸騰， 升華，蒸發，脫氫反應，斷裂或分解反應，氧化或還原反應，晶格結構的破壞和其 他化學反應。
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